检测项目
紫外光电子能谱(UPS)

 

仪器图片

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仪器名称

紫外光电子能谱(UPS)

仪器型号

Escalab 250Xi

生产厂家

赛默飞

仪器简介

赛默飞 EscaLab 250Xi 光电子能谱仪是一台多功能高性能的表面分析仪器,它可以用于研究各种固体材料样品表面(1-10nm厚度)的元素种类、化学价态以及相对含量。
结合离子刻蚀技术还可以获得元素及化学态深度分布信息;通过成像技术可以获得元素及化学态的面分布信息

技术参数

1.光源:He紫外光源  He(I)/He(II)比例: 4:1;
2.能量分辨率:Ag表面费米边在20%到80%结合能差不高于120 meV
3.灵敏度:Ag 4d峰不低于1,000 kcps;

主要功能

可以获得样品价带谱信息,对导体、半导体的能带、带隙等分析提供主要数据,分析样品的价带位置和功函数等。

检测案例

样品要求

1. 样品状态:薄膜,样品平面尺寸一般要求5*5mm,最大不超过8*8mm,可以为正方形或者长方形,厚度最好不要超过1mm,样品要求具有一定导电性。

2.粉体样品需要制备为薄膜,具体制备方法及要求如下:先把粉末样品分散在水或乙醇里(浓度尽量低点),滴在硅片上烘干,可以多循环几次,一定要保证膜表面尽量平整、均匀、连续、整洁,硅片尺寸5*5mm-5*8mm,厚度几百μm,涂完膜干燥后膜层以完全覆盖住硅片即可(膜层厚度10-50nm即可),膜层的电阻最好小于10兆欧,最大不能超过30兆欧。

 


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