原子力显微镜(AFM)_上海慕研检测技术中心

仪器图片
仪器名称	原子力显微镜(AFM)
仪器型号	Dimenison ICON
生产厂家	美国布鲁克(BRUKER)公司
仪器简介	Bruker Dimension® Icon™ 原子力显微镜为工业界和科研界纳米领域的研究者带来了全新的应用体验，具有高水平的性能、功能和配件选择，其测试功能强大，操作简便易行。齐集 Dimension系统数十年的技术经验，广大客户反馈，结合工业领域的设备需求， Dimension Icon进行了全面革新。全新的系统设计，实现了前所未有的低漂移和低噪音水平。现在，用户只需要几分钟就可获得真实准确的扫描图像。
技术参数	测量模式：（1）接触模式 (Contact Mode) （2）智能扫描模式( ScanAsyst) （3）轻敲模式 (Tapping Mode, Bruker专利技术) （4）相位成像模式（Phaseimaging，Bruker 专利技术）（5）抬起模式 (Lift Mode, Bruker专利技术) （6）扭距共振模式（TR-MODR，Bruker 专利技术）（7）高次谐波共振模式(HarmoniC 模式,Bruker专利技术) （8）电场力显微镜（EFM）（9）表面电势显微镜（Surface Potential,KFM）（10）表面磁场（MFM）（11）压电响应模式（PFM）（12）横向力/摩擦力显微镜 (LFM) （13）力曲线 / 力谱测量（Force curve/ Force volume） 2.扫描范围：90µm x 90µm x 10µm 3.分辨率：可持续稳定得到原子级分辨率
主要功能	Z方向噪声水平：开环控制< 0.3Å 闭环控制< 0.35 Å（图象测试）；< 0.5Å（力测试） XY方向噪音水平：开环控制< 0.1nm；闭环控制< 0.15nm 形貌测试：高度差不高于1微米，可同时得到样品的粗糙度和高度分布图; 导电性能测试：同时得到形貌和电流分布图；也可以进行选区I-V曲线测试; 静电力测试：电荷分布的定性表征，能很好地进行微区导体和非导体鉴定; 表面电势测试: 表面电荷的半定性表征，能直接测量探针和样品之间的电势差; 磁学测试：微区磁畴的分布表征; 纳米力学测试：可通过拟合力学曲线得到样品的杨氏模量，力学图谱测量，得到微区的杨氏模量分布，适用于较软样品高级纳米力学成像模式，可对有机物，高分子以及金属材料进行扫描，同时得到形貌和模量分布; 压电力测量：薄膜，陶瓷，晶体，纤维材料的表面铁电畴表征，极化反转和蝴蝶曲线测试，畴操纵。
检测案例
样品要求	1.块体及薄膜样品：长宽小于1cm，高度不超过2mm； 2.粉末或纤维样品：质量不小于20mg； 3.液体样品：至少0.5ml； 4.样品表面光滑，表面起伏不超过1μm；